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- PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱特點(diǎn)
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱適用于國(guó)防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
- 型號(hào):
- 更新日期:2024-06-17 ¥29000
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- PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱適用于國(guó)防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
- 型號(hào):
- 更新日期:2023-10-15 ¥29000
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- PCT高壓壽命老化試驗(yàn)箱
PCT高壓壽命老化試驗(yàn)箱適用于國(guó)防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
- 型號(hào):
- 更新日期:2023-10-15 ¥29000
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- 小型PCT高壓老化試驗(yàn)箱
小型PCT高壓老化試驗(yàn)箱適用于國(guó)防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
- 型號(hào):
- 更新日期:2023-10-15 ¥29000
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- PCT高壓蒸汽老化試驗(yàn)箱
PCT高壓蒸汽老化試驗(yàn)箱適于國(guó)防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)
- 型號(hào):
- 更新日期:2023-10-15 ¥38000
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- 高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)
高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。
- 型號(hào):
- 更新日期:2023-10-15 ¥38000
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- 高壓蒸汽老化試驗(yàn)箱
高壓蒸汽老化試驗(yàn)箱相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性,氣密性。測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力
- 型號(hào):
- 更新日期:2023-10-15 ¥38000
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- PCT高壓蒸煮試驗(yàn)箱
PCT高壓蒸煮試驗(yàn)箱適用于航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)
- 型號(hào):
- 更新日期:2023-10-15 ¥38000