分享高低溫循環(huán)測試的常規(guī)方式
2022-12-10
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高低溫循環(huán)測試(又名高低溫循環(huán)試驗、高低溫試驗等)主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸,使用時的適應性試驗。
高低溫循環(huán)測試是指設(shè)定溫度從-50℃保持4個小時后,升溫到 +90℃,然后,在+90°保持4個小時,降溫到-50℃,依次做N個循環(huán)。
工業(yè)級溫度標準為-40℃ ~+85℃,因為溫箱通常會存在溫差,為保證到客戶端不會因為溫度偏差導致測試結(jié)果不一致,內(nèi)部測試建議使用標準溫度±5℃C溫差來測試.
測試流程:
1、在樣品斷電的狀態(tài)下,先將溫度下降到-50℃,保持4個小時;請勿在樣品通電的狀態(tài)下進行低溫測試,非常重要,因為通電狀態(tài)下,芯片本身就會產(chǎn)生+20℃以上溫度,所
以,在通電狀態(tài)下,通常比較容易通過低溫測試,必須先將其“凍透",再次通電進行測試。
2、開機,對樣品進行性能測試,對比性能與常溫相比是否正常。
3、進行老化測試,觀察是否有數(shù)據(jù)對比錯誤。
4、升溫到+90℃,保持4個小時,與低溫測試相反,升溫過程不斷電,保持芯片內(nèi)部的溫度一直處于高溫狀態(tài),4個小時后,執(zhí)行2、3、4測試步張。
5、高溫和低溫測試分別重復10次。
如果測試過程出現(xiàn)任何一次不能正常工作的狀態(tài),則視為測試失敗。
參考標準:
GB/T2423.1-2008試驗A:低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B:高溫試驗方法
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